Abstract Secondary ion mass spectrometry(SIMS) is more sensitive than other surface microregion analysis instrumentals.
摘要 二次
谱 ( SIMS)比其他
面微区分
法更灵敏。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
译
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